簡介

模數(shù)轉(zhuǎn)換，即Analog-to-Digital Converter，常稱ADC，是指將連續(xù)變量的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為離散的數(shù)字信號(hào)的器件，比如將模溫度感器產(chǎn)生的電信號(hào)轉(zhuǎn)為控制芯片能處理的數(shù)字信號(hào)0101，這樣ADC就建立了模擬世界的傳感器和數(shù)字世界的信號(hào)處理與數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換的聯(lián)系。

時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器TDC是ACAM核心的很高精度的時(shí)間間隔測(cè)量產(chǎn)品，全數(shù)字化集成電路，采用標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝制造，對(duì)溫度和電壓的變化采用補(bǔ)償方式，以便能同時(shí)滿足高精度、高測(cè)量刷新率、低功耗和小體積等方面的要求。具體來講，TDC是以信號(hào)通過內(nèi)部門電路的傳播延遲來進(jìn)行高精度時(shí)間間隔測(cè)量的，顯示了這種測(cè)量絕對(duì)間隔時(shí)間TDC的主要框架。

以上產(chǎn)品組合包括一系列多功能時(shí)間到數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。我們的許多客戶的應(yīng)用場(chǎng)景依賴于對(duì)飛行時(shí)間(TOF)的測(cè)量。該系列產(chǎn)品非常適合用于質(zhì)譜系統(tǒng)(TOF-MS)，光學(xué)相干斷層掃描(OCT)，熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)， 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)，近紅外光譜(NIRS)，功能近紅外光譜(fNIRS)等應(yīng)用領(lǐng)域。

我們的多命中時(shí)間間隔分析儀保證高精度測(cè)量脈沖到達(dá)時(shí)間。我們的瞬態(tài)記錄儀(adc)提供額外的模擬脈沖形狀信息，例如 脈沖高度、寬度和面積，并允許詳細(xì)的脈沖形狀分析，為解開重疊脈沖場(chǎng)景中的單脈沖提供方法。

板卡之間可以互聯(lián)同步，滿足多通道計(jì)數(shù)的應(yīng)用要求。

主要應(yīng)用

應(yīng)用價(jià)值

• ADC&TDC的組合應(yīng)用，脈沖細(xì)節(jié)和精確時(shí)間都能兼顧

• 詳細(xì)的脈沖形狀分析，解開重疊脈沖場(chǎng)景中的單脈沖細(xì)節(jié)

• 標(biāo)準(zhǔn)PCIe總線設(shè)計(jì)，易于集成

• 豐富的軟件開發(fā)接口、實(shí)例

• 高精度時(shí)間測(cè)量

• 豐富的產(chǎn)品組合，兼顧性能和成本

• 簡單的多通道同步采集方案！

• 32通道同步高精度時(shí)間測(cè)量系統(tǒng)！

• 精確地記錄你的數(shù)據(jù)—低于 13ps 的測(cè)量分辨率！

• 雙極閾值:可廣泛支持各種探測(cè)器或常分?jǐn)?shù)鑒別器！                                                    

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